一种基于激光修调的DC-DC电路可测性测试方法及装置

本发明公开一种基于激光修调的DC‑DC电路可测性测试方法及装置，属于芯片测试领域。本发明通过配置电路移位寄存器，控制电路进入测试模式，使得内部上下功率管工作于恒定导通或者关断状态，通过施加电流激励信号，即可实现导通阻抗的测试；在测试模式中，通过改变反馈端口电压，控制电路进入修调模式，可实现电路基准参考电压及内部工作频率等关键参数的在线修调；基于激光修调测试系统，针对DC‑DC电路长期困扰的导通阻抗参数的测试，通过配置移位寄存器控制电路进入测试模式，实现导通阻抗的测试。同时，因生产工艺的离散型，通过激光修调，以及在线修调两种举措，提高电路良率。