一种芯片自动验证方法、装置、存储介质及电子设备

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推荐专利
一种芯片自动验证方法、装置、存储介质及电子设备
申请号:CN202511163652
申请日期:2025-08-20
公开号:CN120670237A
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本公开实施例提供了一种芯片自动验证方法、装置、存储介质及电子设备,涉及计算机技术领域,方法包括:获取待验证芯片的研发代码,确定研发代码对应的模块并确定模块的仿真路径;根据仿真路径确定模块的仿真文件夹;根据仿真文件夹中的至少一个测试用例代码和验证环境文件进行并行编译,得到用于芯片仿真的至少一个编译文件并分别存储;基于回归仿真命令,在服务器集群上并行仿真至少一个编译文件,得到仿真结果文件;根据仿真结果文件进行覆盖率分析和回归结果分析,得到分析结果并生成分析结果报表文件。如此,全自动完成编译、仿真,并对服务器集群资源进行测试用例的动态分配,在保证验证全面性的基础上提高了验证效率。
技术关键词
测试用例代码 覆盖率 命令 自动验证方法 文件夹 模块 验证平台 报表 服务器集群资源 芯片 报告 电子设备 计算机 日志 验证装置 处理器 生成规则
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