双基准点矫正方法

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双基准点矫正方法
申请号:CN202511175615
申请日期:2025-08-21
公开号:CN120916424A
公开日期:2025-11-07
类型:发明专利
摘要
本发明涉及自动插装设备技术领域,具体涉及双基准点矫正方法,该方法通过获取设置于下相机模组上的第一基准点和第二基准点的图像信息,基于第一基准点的图像信息确定上相机对准第一基准点时的实际坐标,并与预设的固定坐标值进行比对,生成坐标系平移校正参数;基于两个基准点的图像信息,计算两点连线与X轴方向的夹角,生成坐标系旋转校正参数;将两种校正参数整合更新插件机坐标系统,本发明还采用丝杆背隙消除操作提高基础定位精度,并建立矫正效果验证和历史数据分析机制,本发明首创性地采用双基准点设计,同时解决了坐标系原点偏移和X轴正交性变化问题,确保了插件机长期稳定运行和不同机台间的一致性。
技术关键词
矫正方法 插件机 坐标系 校正 参数 相机模组 插装设备 图像处理算法 坐标校准 偏差 连线 移动模组 生成设备 机台 矩阵 误差
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