一种用于检测液晶显示屏缺陷的方法、装置、设备及存储介质

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一种用于检测液晶显示屏缺陷的方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202511181914
申请日期:2025-08-22
公开号:CN120802526A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种用于检测液晶显示屏缺陷的方法、装置、设备及存储介质,涉及显示面板制造技术领域,通过自动化初筛减少复检量,并基于缺陷的复检优先级指数Dpr与复检时间消耗评估值Tce进行量化分析。进而对特定高耗时缺陷执行“机器量化、人工裁定”的任务分割,实现人机优势深度融合。尤为关键的是,系统通过实时监测席位负荷计算出即时承载能力ICC,确保将任务精准匹配给状态最佳的检测员。这种对缺陷与人员的双重感知与智能匹配,从根本上解决了传统检测的低效、过载与误检问题,显著提升了系统的综合性能与鲁棒性。
技术关键词
液晶显示屏 工作状态数据 图像特征信息 指数 自动化系统 自动化算法 对比度 复杂度 队列 缺陷尺寸 模板 负荷 处理器 周期 指令 模块 存储器 鲁棒性
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