膜片破裂压力稳定性预测方法

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膜片破裂压力稳定性预测方法
申请号:CN202511184084
申请日期:2025-08-22
公开号:CN121031200A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种膜片破裂压力稳定性预测方法,包括步骤:测量刻痕底部微观形貌,并进行统计分析,基于统计分析得到数据建立考虑粗糙度的有限元模型;构建基于Johnson‑Cook本构模型与剪切损伤准则的膜片破裂有限元仿真模型,并通过实验验证模型的准确性;建立多尺度特征下的破裂压力稳定性代理模型;通过灵敏度分析识别关键影响因素,依据“3σ”控制原则,反推出满足破裂压力设计目标的加工容差带,根据膜片刻痕的实际形貌参数判断其破裂压力是否满足规定的破裂压力稳定性的设计要求。本发明涉及航天器膜片加工技术领域,能够解决现有技术中膜片刻痕底部的微观形貌影响膜片破裂压力响应稳定性的问题。
技术关键词
稳定性预测方法 膜片 粗糙度 压力 刻痕 激光共聚焦显微系统 全局灵敏度分析方法 应力应变测试系统 三维点云数据 多尺度特征 仿真模型 多参数 航天器 基准面 变量 指标 动态
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