工业表面缺陷检测场景下小样本目标检测框架

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工业表面缺陷检测场景下小样本目标检测框架
申请号:CN202511185723
申请日期:2025-08-22
公开号:CN120931626A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明属于目标检测技术领域,特别涉及工业表面缺陷检测场景下小样本目标检测框架。本发明选择了YOLOv5中的CSPResNet34和CSPResNet50作为网络架构的基线网络,并在此基础上引入了注意力机制,使得ResNet能够进行更为精细和高效的特征提取。这种通过引入注意力机制而获得的增强型特征提取能力,可以帮助模型更好地识别和定位图像中的细小目标,从而提高检测性能。同时,本发明对MAML框架的训练策略进行了改进,引入了内外循环学习率自适应调整的机制,使得MAML框架能够根据训练过程中的动态调节学习率,这一改进提升了模型在不同训练阶段的拟合效率及最终的泛化能力。
技术关键词
表面缺陷检测 框架 特征提取能力 阶段 样本 引入注意力机制 网络架构 场景 特征提取模型 工业 策略 参数 基线 代表 动态 定义
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沪ICP备2023015588号