灌胶同轴测试装置及其制作工艺

本发明公开了一种灌胶同轴测试装置及其制作工艺，包括底座，在所述底座的顶部设置有向内侧凹陷的容纳槽，在所述容纳槽的底部设置有限位槽，所述容纳槽用于防止芯片在容纳槽内出现位移，在所述限位槽的底部按照预设间隔排列有若干个容纳孔，所述容纳孔贯穿所述限位槽的底部，在所述容纳孔内设置有测试探针，所述测试探针的侧部与所述容纳孔的内壁之间设置有绝缘胶层。本申请通过在所述测试探针的侧壁与所述容纳孔的内壁之间设置有绝缘胶层，使得探针不直接与金属材质的底座接触，有效的达成绝缘，加上金属屏蔽讯号的特性，在测试过程可以达成高频讯号的传输效果，此外还可以实现更好的防水、防尘、防腐蚀效果，同时加固测试探针与底座的连接。