基于偏置磁场增强交流电磁场的裂纹量化方法

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正文
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基于偏置磁场增强交流电磁场的裂纹量化方法
申请号:CN202511191551
申请日期:2025-08-25
公开号:CN120741611B
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明属于无损探伤检测技术领域,尤其涉及一种基于偏置磁场增强交流电磁场的裂纹量化方法。该裂纹量化方法提高了裂纹尺寸量化结果的可靠性,增强了交流电磁场在表面裂纹与内部裂纹的信号指示性,提高了表面裂纹与内部裂纹的检出率。基于偏置磁场增强交流电磁场的裂纹量化方法包括:设定标定裂纹;获取得到各标定裂纹的交流Bx信号;得到重置后的新Bx信号;求解新Bx信号的灵敏度;计算标定裂纹尺寸之间的核函数;计算对数边缘似然;计算得到各新增尺寸数据点的均值以及各新增尺寸数据点的方差;获取待量化裂纹的交流信号,得到裂纹深度值‑灵敏度的量化曲线及待量化裂纹的深度预测值,求解得到待量化裂纹深度预测值的置信度与方差。
技术关键词
交流电磁场 偏置磁场 深度值 裂纹尺寸 协方差矩阵 无损探伤检测 信号值 数据 超参数 曲线 算法
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