模型测试方法、装置、设备及存储介质

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推荐专利
模型测试方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202511194728
申请日期:2025-08-25
公开号:CN120705070B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种模型测试方法、装置、设备及存储介质,可以应用于计算机领域。该模型测试方法包括:将用于当前时段的基准测试数据集输入测试模型和待测模型中,得到测试模型针对多个第一服务器日志的任一第一测试参数的多个第一诊断结果和待测模型针对任一第一测试参数的多个第二诊断结果;基于多个第一诊断结果和多个第二诊断结果得到基准测试结果;将用于当前时段的基线测试数据集输入待测模型中,得到针对多个第二服务器日志的任一第二测试参数的多个第三诊断结果;基于基线测试样本中针对任一第二测试参数的多个基线值和多个第三诊断结果得到基线测试结果;在基准测试结果和基线测试结果不满足预设条件的情况下,确定待测模型存在异常。
技术关键词
服务器 日志 基线 模型测试方法 参数 基准 模型测试装置 样本 输入模块 处理器 可读存储介质 电子设备 指令 存储器 计算机
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