光学模组缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品

本申请公开了一种光学模组缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品，涉及头显设备技术领域，该光学模组缺陷检测方法应用于头显设备的光学模组，包括：对光学模组进行光学性能检测得到光学检测结果；在光学检测结果为不合格的情况下，对光学模组施加外部激励，以使光学模组产生振动，并采集光学模组对应产生的振动响应信号；将振动响应信号输入训练好的振动特征分类机器学习模型，输出得到振动响应信号对应的目标工艺缺陷信息，其中，目标工艺缺陷信息至少包括光学模组的工艺缺陷类型信息。本申请能够在不破坏产品完整性的前提下，建立针对光学模组覆盖多工艺环节的缺陷检测与溯源体系，提高对光学模组缺陷类型/原因进行检测的精度和效率。