一种星载电源芯片浪涌防护测试系统及方法

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一种星载电源芯片浪涌防护测试系统及方法
申请号:CN202511199006
申请日期:2025-08-26
公开号:CN120686003B
公开日期:2025-12-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种星载电源芯片浪涌防护测试系统及方法,涉及浪涌防护测试技术领域,通过浪涌波形模拟监测模块,在搭建好的测试环境中精准监测浪涌测试过程中的干扰波形,确保测试源的可追溯性;浪涌波形质量判定与调节模块实时获取并分析波形质量参数,动态判断其是否满足测试条件,可及时剔除不合格波形,避免无效测试,提升测试效率;芯片测试可靠度分级模块将合格浪涌波形施加于待测芯片,采集并解析防护测试过程参数,实现对测试结果的分级处理;该系统通过模块化设计,实现了浪涌测试的全流程规范化与精准化,有效保障了测试数据的可靠性与一致性,为星载电源芯片浪涌防护性能的科学评估提供了有力支撑。
技术关键词
星载电源 波形 指数 电源芯片 因子 参数 偏差 共模电压 标记 监测模块 历史运行数据 滤波 网络 测试方法 脉冲 速率 功率 电路
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