测试用例自适应进化方法、电子设备及存储介质

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测试用例自适应进化方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202511201000
申请日期:2025-08-26
公开号:CN120705073A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种测试用例自适应进化方法、电子设备及存储介质。该方法包括:响应于目标代码请求,确定新版本代码和旧版本代码;基于所述新版本代码和所述旧版本代码,确定代码差异和所述代码差异对应的差异影响报告;基于所述新版本代码和已有测试用例进行测试,确定目标失效用例,所述目标失效用例为执行失效,且与所述差异影响报告相关的已有测试用例;采用用例修复语言模型对所述目标失效用例进行语义修复,确定目标修复用例,所述用例修复语言模型为用于对测试用例进行语义修复的大语言模型。该方法能够显著降低测试用例的更新/维护成本,修复效率较高,且不易出错。
技术关键词
进化方法 失效特征 决策 语义 报告 电子设备 可读存储介质 项目 存储器 处理器 计算机 语句 参数 逻辑 接口 程序 关系
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