针对芯片老化环境下的电源保护和报警系统

本申请公开针对芯片老化环境下的电源保护和报警系统，涉及硅电容检测领域。包括供电电源、电源保护模块，以及待测芯片；电流保护模块集成在电路板上，且独立于供电电源；电源保护模块的输入和输出端分别连接供电电源的正负极端口，且电源保护模块正负极端口还连接到待测芯片的两个测试端；电源保护模块包含有TVS二极管，供电电源经过TVS二极管后输出的电压供给待测芯片。通过TVS二极管与限流电阻的协同作用，在供电电源产生电压波动时实现10nS级快速响应，结合自适应算法动态调整保护阈值，具有快速响应电源波动并实现智能保护机制。