一种考虑故障的航天器集成芯片接口电路潜在通路分析方法、存储介质及设备

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一种考虑故障的航天器集成芯片接口电路潜在通路分析方法、存储介质及设备
申请号:CN202511214182
申请日期:2025-08-28
公开号:CN120929345A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
一种考虑故障的航天器集成芯片接口电路潜在通路分析方法、存储介质及设备,属于集成电路设计与故障分析技术领域。为了解决缺少针对不同环境应力下的失效机制下的通路的分析方法的问题。基于航天器电子系统中常见的接口电路和潜在通路结构,构建集成器件的接口电路仿真模型,然后补充各类任务应力环境下的退化机制,确定集成器件接口电路的故障模式表;采用电路仿真方法对典型任务剖面下的接口电路进行考虑故障因素的潜在通路分析,得到任务剖面下接口电路的故障通路响应特征库,进而形成针对接口电路设计的约束线索表,构建接口电路失效关联故障树模型,标定各类潜在通路与器件退化或局部失效之间的关系路径,用于失效定位与通路排查。
技术关键词
通路分析方法 集成器件 集成芯片 电路仿真模型 航天器 电路仿真方法 退化机制 故障树模型 线索 保护二极管 通路结构 应力 典型 驱动接口电路 故障分析技术 电子系统 电平转换电路
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