一种剪切散斑干涉的缺陷尺寸检测方法、电子设备和介质

本发明涉及一种剪切散斑干涉的缺陷尺寸检测方法、电子设备和介质，该方法包括：获取待检测的剪切散斑干涉的图像数据；利用YOLO模型对当前图像进行缺陷目标识别，以框定图像的目标缺陷区域；将已框定目标缺陷区域以外的无关背景二值化，得到加强目标缺陷特征的图像；利用UNet模型对去背景后的图像进行边界精确提取，得到目标缺陷的像素级分割边界；光学标定后，进而得到缺陷的精确尺寸。与现有技术相比，本发明具有提升检测精度、减少缺陷漏检，解决单一模型对缺陷检测能力不足等优点。