一种芯片验证方法、装置、设备及存储介质

本发明公开了一种芯片验证方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片验证领域，包括：基于待测芯片中的各组成模块的未赋值的输入信号和输出信号分别构建相应的子参考模型，以得到与待测芯片对应的目标参考模型；在芯片验证过程中，将输入激励信号值赋给待测芯片中的相应组成模块的输入信号以进行信号处理，并获取各组成模块的仿真信号值；将输入激励信号值赋给目标参考模型中的相应子参考模型的输入信号以进行信号处理，并获取各子参考模型的预期信号值；仿真信号值和预期信号值均包括输入信号值和输出信号值；通过比对各组成模块的仿真信号值和各子参考模型的预期信号值，以对待测芯片进行验证，并在芯片验证出错时准确定位具体的出错模块。