光学邻近校正模型的校准方法、电子设备及存储介质

AITNT
正文
推荐专利
光学邻近校正模型的校准方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202511220929
申请日期:2025-08-28
公开号:CN120722645B
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本公开的实施例涉及光学邻近校正模型的校准方法、电子设备及存储介质。该方法包括:基于版图中预定图形的仿真图形和对应于预定图形的晶圆图像确定光学邻近校正OPC模型的成本函数的值,其中沿预定图形的第一方向以及与第一方向非垂直的第二方向设置的标尺被赋予比其余方向的标尺更大的权重,第一方向为水平或者竖直方向;基于成本函数的值对OPC模型进行迭代以更新模型参数;以及响应于迭代满足预定条件,将对应的OPC模型确定为经校准的OPC模型。本公开的技术方案能够显著改善模型的仿真图形的轮廓出现方形的现象,从而提高仿真精度。
技术关键词
仿真图形 OPC模型 光学邻近校正模型 标尺 更新模型参数 校准方法 版图 设备执行动作 晶圆 图像 电子设备 处理器 可读存储介质 光刻图形 模型误差 指令 尺寸
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号