半导体电路基板及其检查元件的配置方法、装置

本申请提供一种半导体电路基板及其检查元件的配置方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品。在该半导体电路基板中，同一规格的多个芯片部呈重复排列状配置且在各芯片部彼此之间设置有切割道，其中，芯片部具有：配置的低压器件比高压器件多的低压区域以及配置的高压器件比低压器件多的高压区域，在切割道中的与低压区域相邻的范围内设有低压用检查元件，并且在切割道中的与高压区域相邻的范围内设有高压用检查元件。本申请可以提高检测元件的检测准确度。