一种基于时频域信号特征的超声检测微米级缺陷识别方法

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正文
推荐专利
一种基于时频域信号特征的超声检测微米级缺陷识别方法
申请号:CN202511226683
申请日期:2025-08-29
公开号:CN120801538A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于时频域信号特征的超声检测微米级缺陷识别方法,包括:S1.获取超声波检测的微米级回波信号,并提取出微米级回波信号中的表面波和待检测声波信号;S2.提取待检测声波信号中的时域特征,基于设定的时域包络差异判断算法判断得到时域缺陷检测结果;S3.提取表面波和待检测声波信号中的频域特征,基于设定的频域相位差值判断算法判断得到频域缺陷检测结果;S4.基于时域缺陷检测结果和频域缺陷检测结果,得到最终缺陷检测结果。本发明有效克服了单频域或单时域检测缺陷识别率低的问题,能够快速、精准定位微米级缺陷,将缺陷检出率提升至新高度,大幅降低漏检与误判风险。
技术关键词
缺陷识别方法 表面波 包络 信号特征 判断算法 极值 时域特征 频域特征 缺陷检出率 频率 回波 检测缺陷 超声波 符号 风险
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