面向数模混合芯片的多通道并行测试系统及自校准方法

本发明公开了面向数模混合芯片的多通道并行测试系统及自校准方法，包括：光子辅助校准模块，用于生成覆盖直流至毫米波频段的超宽带光校准信号，通过光电器件转换为电信号；多通道并行测试模块，包含至少两个独立测试通道，各通道集成模数转换器、数模转换器及射频前端，用于毫米波频段信号的并行测试；自校准模块，基于所述光子辅助校准模块的输出信号，动态调整各测试通道的增益、相位及偏移参数。本发明，采用光子辅助校准模块及光学频率梳生成结构，突破传统电校准高频段损耗与串扰限制，扩展校准带宽至直流至毫米波频段，提升高频信号校准精度；多通道共享光频梳时钟源，结合高速光开关阵列实现动态分路，触发延迟误差小。