一种tray盘上下料装置及其控制方法和芯片测试设备

本发明提供了一种tray盘上下料装置及其控制方法和芯片测试设备，涉及芯片上下料技术领域。本发明中同步升降组件能够同步带动第一可拨动结构和第二可拨动结构上下移动，第一可拨动结构能够承载目标上料tray盘，并将其移动至第一承托锁止结构上。第二可拨动结构能够承接从传输口输入的下料tray盘，并将其移动至第二承托锁止结构上，进而实现了对上料tray盘和下料tray盘的分仓传递。上述技术方案仅采用一个料仓，可以实现tray盘的上料和下料，相比于现有技术中采用双料仓进行上下料的方案，可以减小tray盘上下料装置的体积，减小占用空间。