虚拟控制器测试方法、电子设备及存储介质

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虚拟控制器测试方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202511230245
申请日期:2025-08-29
公开号:CN121028742A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种虚拟控制器测试方法、电子设备及存储介质,所述方法包括:生成测试信号,通过虚拟线束将所述测试信号发送至虚拟控制器;所述虚拟控制器响应所述测试信号,生成控制信号,通过所述虚拟线束将所述控制信号发送至虚拟台架;对所述控制信号进行测试,并在所述控制信号通过测试的情形下,所述虚拟台架响应所述控制信号,生成响应信号,通过所述虚拟线束将所述响应信号发送至所述虚拟控制器;对所述响应信号进行测试,并在所述响应信号通过测试的情形下,确定所述虚拟控制器通过测试。本申请实施例可以在虚拟测试环境下对虚拟控制器进行测试,有效提高了虚拟控制器的测试效率。
技术关键词
控制器测试方法 线束 生成测试信号 台架 消息 生成控制信号 电子设备 计算机存储介质 虚拟测试环境 存储程序指令 处理器 状态更新 存储器 软件 对象
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