一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法

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一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法
申请号:CN202511231860
申请日期:2025-09-01
公开号:CN120741435B
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种双标样多谱线校正的LIBS定量准确度提升方法,包括:获取待测样品和两个标准样品的LIBS光谱数据;从LIBS光谱数据中获取待测样品和两个标准样品的待测元素的多条特征谱线数据;根据特征谱线数据计算第二标准样品的谱线强度校正因子;根据第二标准样品的谱线强度校正因子计算待测样品的特征谱线理论强度;根据第一标准样品的实际谱线强度和待测样品的特征谱线理论强度建立校正曲线;根据校正曲线计算待测样品的待测元素含量。本发明通过采用双标样多谱线校正算法,可以显著提高单点多谱线校正方法定量分析的准确度,同时弥补了免定标激光诱导击穿光谱算法计算过程繁琐的缺点。
技术关键词
强度 理论 待测元素 激光诱导击穿光谱 数据 因子 校正算法 校正方法 波长 基准 抛光
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