一种基于芯片生产过程的数据采集与分析系统及方法

本发明公开了一种基于芯片生产过程的数据采集与分析系统及方法，属于数据采集、处理及分析技术领域，通过多模块协同，实现对环境温湿度、芯片生产过程、设备电能等多源关键数据的全面采集；同时，系统依托数据分析与应用模块，从数据库提取多源数据，通过分析并可视化呈现，助力工业生产和环境监测的高效安全运行，提升管理智能化水平，降低管理难度，提高数据处理效率与决策科学性，在相关领域具有重要应用价值。