一种集成芯片的故障检测方法及系统

本发明提供了一种集成芯片的故障检测方法及系统，涉及半导体技术领域，包括：获取与集成芯片固有属性相关的扫描链故障字典，组成包括不同故障状态向量的故障特征矩阵；确定对故障特征矩阵进行调制的测试向量生成约束；通过求解关于测试向量的凸松弛优化函数生成扫描链的优化测试向量；利用优化测试向量对集成芯片进行故障检测，采集响应矩阵；结合响应矩阵和优化测试向量，求解故障状态估计向量；通过残差熵度量故障状态估计向量的置信度，在置信度大于预设置信度的情况下，缩小测试向量生成约束的上限值，返回更新优化测试向量；否则，输出故障位置和故障类型。消除故障模糊性，确保故障类型和位置可以准确识别。