一种真空腔体保压测试与漏率快速估算方法及系统

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一种真空腔体保压测试与漏率快速估算方法及系统
申请号:CN202511240342
申请日期:2025-09-02
公开号:CN120927224A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种真空腔体保压测试与漏率快速估算方法及系统,该方法包括:通过公共计量歧管与多通隔离阀实现多区段的测试准备,并建立区段体积数据库;通过抽气至预设压力并隔离泵端,以固定采样周期同步采集压力与温度数据;通过温度归一化与放气基线扣除,结合滤波与回归算法获得等效压力变化率,并换算得到标准化漏率;通过分段二分隔离策略与体积修正,对腔体各功能区段进行逐级检测,实现可疑泄漏区段的快速定位;通过预警阈值与不合格阈值的双阈值判定,自动生成检测报告并写入历史数据库,形成检测—判定—维护的闭环。本发明能够提高漏率检测的精度,适用于真空镀膜设备、半导体工艺装备及工业真空处理装置。
技术关键词
真空腔体 回归算法 歧管 半导体工艺装备 真空泵 真空镀膜设备 隔离阀 压力 估算系统 基线 分段 回归方法 标定方法 报告 闭环控制 滤波 数据 策略 真空计
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