一种集成电路芯片检测装置

本发明涉及芯片检测技术领域，具体为一种集成电路芯片检测装置，包括：X射线检测机、驱动电机、对中组件、定位板、往复组件和清洁胶卷；X射线检测机内安装有检测装置，检测装置之间设有检测平台，检测平台上开设有驱动腔；驱动电机安装于检测平台上，驱动电机前方设有对中组件，对中组件内设有定位板，两组定位板滑动安装于检测平台上，驱动电机通过对中组件驱动两组定位板水平滑动实现集成电路芯片定位；对中组件前方设有往复组件，往复组件上设有清洁胶卷，对中组件通过往复组件驱动清洁胶卷对集成电路芯片进行清理，本发明通过旋转运动提高了X射线检测机的成像精度，进而提高了检测效率与检测质量，避免漏判与误判的发生。