膜厚测量方法、计算机可读存储介质及膜厚测量系统

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膜厚测量方法、计算机可读存储介质及膜厚测量系统
申请号:CN202511243314
申请日期:2025-09-02
公开号:CN120760613A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本申请实施例涉及光伏技术领域,并提供一种膜厚测量方法、计算机可读存储介质及膜厚测量系统。该膜厚测量方法包括:获取一组参考薄膜的参考厚度数据;获取在预设照明条件下,与所述参考厚度数据对应的参考RGB颜色值;基于所述参考厚度数据和所述参考RGB颜色值,建立膜厚与RGB颜色值之间的映射模型;获取在所述预设照明条件下,待测薄膜的待测RGB颜色值;以及基于所述待测RGB颜色值和所述映射模型,确定所述待测薄膜的厚度。
技术关键词
RGB颜色值 膜厚测量方法 插值算法 光学成像设备 薄膜 可读存储介质 椭偏仪 照明 查找表 处理器 数据 计算机 条目 多项式 图像 存储器 线性 样条
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