基于共加热机构的多尺寸样品发射率测量系统及测量方法

本申请提供一种基于共加热机构的多尺寸样品发射率测量系统及测量方法，系统包括共加热机构，共加热机构内设有加热室，加热室内并列设有黑体腔和样品腔，黑体腔和样品腔通过同一电加热组件控制其内温度；可更换定位组件，可更换定位组件设于样品腔内，用于适配不同尺寸的待测样品；光谱仪的光路可切换地对准黑体腔或所述样品腔的出口；定位调整机构，定位调整机构用于调节共加热机构与光谱仪的相对位置，以使黑体腔与样品腔的光轴均与光谱仪光轴重合。该测量系统可通过共加热系统同时加热黑体腔与样品腔，保证温度一致性，并采用可更换的定位组件适配不同尺寸样品，实现多尺寸样品的高精度光谱发射率测量。