一种芯片验证方法及系统

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推荐专利
一种芯片验证方法及系统
申请号:CN202511249239
申请日期:2025-09-03
公开号:CN120781794A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种芯片验证方法及系统,涉及芯片仿真验证技术领域。该方法为:从获取到的测试用例中解析出测试场景特征;根据预先设置的场景特征与配置特征之间的对应关系,确定与所述测试场景特征相匹配的目标配置特征;将所述目标配置特征输出至所述芯片测试平台外接的可执行工具中;获取所述可执行工具对所述目标配置特征进行解析得到的配置文件;将所述配置文件对应的配置信息输入至所述芯片测试平台中的被测芯片中,以对所述被测芯片进行芯片仿真验证。由此,实现了在硅前验证环境下提升芯片的验证速度的目的。
技术关键词
配置特征 芯片测试平台 测试场景 场景特征 芯片验证方法 芯片仿真验证技术 芯片验证系统 特征选择 生成配置文件 关系 速度
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沪ICP备2023015588号