一种封闭式芯片耗材及检测方法

本发明公开了一种封闭式芯片耗材及检测方法，耗材包括主体，主体上设置样品入口、定量区、混合区和检测单元，混合区包括混合腔和与混合腔连接的混合流体通道，检测单元包括第一检测单元，第一检测单元包括第一检测腔、废液通道和废液腔，第一检测腔与混合流体通道连接；样品入口、定量区、混合区和第一检测单元依次连接，混合腔内存储有试剂，混合腔可被压动；混合流体通道具有封堵和非封堵状态；第一检测腔、废液通道和废液腔顺序连通，且被设置为在第一检测腔内的流体未被驱动或被驱动但驱动力小于设定值时，流体不会自动从第一检测腔排出。该耗材对样本需求量小，试剂简单，主体采用封闭设计，可避免交叉污染，避免操作失误，并缩短检测时间。