一种激光测距精度测试系统及测试方法

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一种激光测距精度测试系统及测试方法
申请号:CN202511251342
申请日期:2025-09-03
公开号:CN120762006A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种激光测距精度测试系统及测试方法,属于光电测试领域;包括激光接收模块、延时模块和激光发射模块;激光接收模块用于接收激光测距仪发射的激光脉冲信号并将激光脉冲信号转换为电脉冲信号同时获取激光脉冲信号的脉宽和重频;延时模块接收激光接收模块转换的电脉冲信号先经过指定时长粗延时再经过指定时长细延时后产生触发信号;激光发射模块接收触发信号后发射和激光脉冲信号相同的激光脉冲信号回波信号给激光测距仪接收窗口,完成测试回路;通过激光测距设备测量距离与激光模拟测距系统模拟距离进行比较,完成精度测试。本发明采用粗细延时综合设计,进一步提升了延时的精度,有效地提升了测量系统的准确性。
技术关键词
激光测距精度 延时模块 现场可编程门阵列 激光测距仪 电脉冲 激光发射模块 激光测距设备 信号 测试方法 驱动控制电路 激光发生器 高速光电探测器 数据收发系统 时钟发生器 延时芯片 回波 测试器
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