齿轮缺陷检测方法、装置、设备及介质

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齿轮缺陷检测方法、装置、设备及介质
申请号:CN202511256066
申请日期:2025-09-04
公开号:CN120747100B
公开日期:2025-12-30
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种齿轮缺陷检测方法、装置、设备及介质,方法包括:获取包含有多种齿轮缺陷类型的待检测齿轮图像;将预设的第一齿轮缺陷检测模型的主干网络中的第三个C3k2模块更新为FEM模块,在主干网络中引入GAM‑SE级联注意力机制模块,将第一齿轮缺陷检测模型的IoU损失函数更新为α‑IoU损失函数,并引入Focal Loss机制,以构建第二齿轮缺陷检测模型;将第二增强缺陷特征图输入至第二齿轮缺陷检测模型中的检测头网络,以检测出待检测齿轮图像中的齿轮缺陷类型,根据齿轮缺陷类型生成其相对应的缺陷告警指令传输至齿轮缺陷检测系统中的操作界面。本申请大大提升了模型在微小缺陷定位时的精度,尤其适用于小模数齿轮表面微小缺陷的检测。
技术关键词
齿轮缺陷检测方法 注意力机制 检测齿轮 齿轮缺陷检测系统 分支 卷积模块 基础网络架构 通道 ReLU函数 图像 操作界面 积层 表面微小缺陷 检测头 中央处理器 检测模型训练
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