一种基于超声冲击的密封腔体薄壁件微凸变形校正方法

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一种基于超声冲击的密封腔体薄壁件微凸变形校正方法
申请号:CN202511261065
申请日期:2025-09-05
公开号:CN120755225B
公开日期:2025-12-09
类型:发明专利
摘要
本发明涉及表面处理技术领域,公开了一种基于超声冲击的密封腔体薄壁件微凸变形校正方法,该方法先通过光学扫描获取实体模型,比对设计模型得到变形区及变形量,再导入有限元软件模拟校形,确定超声冲击临界移动速度,接着用实物特征件修正模型,确定基准校形参数及其他区域基于移动速度系数的修正参数,最后按变形量由大到小迭代校形至达标;相比现有技术,其能准确定位量化变形,结合仿真与实物确定差异化参数,通过实时反馈动态优化,对“微区域、非均匀、大尺寸”变形实现绿色高效校正,为航空航天等领域关键零件修复装配提供可行手段。
技术关键词
变形校正方法 密封腔体 光学扫描设备 高精度量具 蓝光三维扫描仪 有限元仿真软件 速度 材料性能参数 基准 大尺寸 仿真模型 载荷 超声波 热处理 频率 应力 场景
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