基于GIS+BIM技术的高精度数字扫描系统

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推荐专利
基于GIS+BIM技术的高精度数字扫描系统
申请号:CN202511262237
申请日期:2025-09-05
公开号:CN120747386B
公开日期:2025-12-12
类型:发明专利
摘要
本申请涉及数据处理技术领域,具体涉及基于GIS+BIM技术的高精度数字扫描系统,该系统包括:点云数据获取模块,用于获取任一城市建筑每次扫描得到的点云数据集;点云数据去噪模块,用于将点云数据简称为点,获取各点的同属性数量与第一滤波半径;获取任意两点之间的相似度;获取各点的第二滤波半径;得到各点云数据集与其余每个点云数据集之间的匹配度,获取各点云数据集中各点的第三滤波半径,对各点云数据集进行去噪处理;数字扫描模型生成模块,用于采用GIS+BIM技术,生成数字扫描模型。本申请旨在通过提高点云数据的去噪效果,进而提高后续采用GIS+BIM技术生成的数字扫描模型的精度。
技术关键词
BIM技术 扫描系统 点云数据去噪 邻域 特征点 数据获取模块 滤波算法 两点 匈牙利算法 因子 强度 数据处理技术 聚类算法 偏差 建筑
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