高精度电源管理芯片动态负载测试装置

本发明公开了高精度电源管理芯片动态负载测试装置，本发明涉及芯片测试技术领域，解决了传统测试装置难以完整捕捉负载跳变全周期内的电压变化细节，无法为芯片设计优化提供精准的数据支撑的问题，本发明通过“基准时段+前后延长时段”的时间线整合策略，完整覆盖电流跳变及电压响应的全周期；延时确认中心通过“谷值溯源校验”锁定最准确的电压谷值点，结合基准时段末端时刻计算时间延时，突破了传统测试中时间节点判定模糊的问题，可精准筛选出延时超标的芯片，保障芯片在快速负载切换场景下的响应及时性。