基于图像识别的电子元件缺陷检测方法及系统

本发明涉及电子元件图像特征检测的技术领域，具体涉及一种基于图像识别的电子元件缺陷检测方法及系统。获取电子元件图像并将其均匀分割为多个矩形区域。选取参考区域，根据其像素邻域灰度差异计算信息量描述子。以此对所有区域聚类并筛选出特征区域。结合特征区域内相邻区域的信息量描述子差异，以及AKAZE多尺度空间下的像素灰度与梯度差异，生成特征系数。利用该系数将待测图像与模板图像进行配准，最终实现电子元件的精确缺陷检测。本发明能够获取电子元件图像中的显著特征点，实现电子元件图像与模板图像的精准配准，进而使电子元件缺陷能够被准确识别。