一种多工位芯片磁场测试装置及测试方法

本发明多工位芯片磁场测试装置及测试方法包括：第一定位柱分别插入分选机上对应定位孔使装置安在分选机上，分选机根据第二和第一信号接触器的接触情况判定装置在分选机上是否安装到位，直到装置安装到位；分选机上测试头内待测芯片安装于芯片放置位且待测芯片的两侧引脚分别与两个pin针模块的底部pin针一一接触；测试机上PCB板定位在盖板上使得双头探针和线圈探针的顶端分别与PCB板上相应点位接触；上电芯片测试，待测芯片、pin针模块、PCB圆板、双头探针和PCB板依次导通，PCB板、线圈探针、PCB多工位板和磁场线圈依次导通，产生磁场，测试机根据测试获得的电流与预设电流条件相比较来判定待测芯片是否是良品。