基于自适应扫描的芯片电磁干扰预测系统及方法

本发明公开了基于自适应扫描的芯片电磁干扰预测系统及方法，涉及智能芯片技术领域，该系统包括以下组成部分：二维自动扫描平台、低频磁场探头、信号采集模块以及数据处理与分析模块；所述二维自动扫描平台包括X轴移动机构、Y轴移动机构、步进电机及Arduino微控制器，X轴与Y轴移动机构均配置滑轨系统，步进电机与对应轴移动机构驱动连接，Arduino微控制器与步进电机电连接，Arduino微控制器输出控制信号驱动步进电机运转，步进电机带动低频磁场探头在芯片辐射场所在平面内移动；本发明基于径向基函数网络（RBFN）与奇异值分解（SVD）实现电磁干扰空间分布重构与预测，解决了现有技术在数据建模稳定性方面的不足，提升了预测精度。