一种基于相界隔离的WC-Co合金中单一WC晶粒纳米硬度的测定方法及系统
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推荐专利
一种基于相界隔离的WC-Co合金中单一WC晶粒纳米硬度的测定方法及系统
申请号:
CN202511284044
申请日期:
2025-09-09
公开号:
CN120778535B
公开日期:
2025-11-11
类型:
发明专利
摘要
本发明涉及材料性能检测技术领域,提供了一种基于相界隔离的WC‑Co合金中单一WC晶粒纳米硬度的测定方法及系统,可有效测试表征WC晶粒的硬度及弹性模量,对WC力学性能影响提出指导。通过纳米压痕仪和数据处理算法的结合,实现了对WC晶粒纳米硬度的精确测量;且测试过程自动化程度高,大大缩短了测试时间。
技术关键词
WC晶粒
测定方法
纳米压痕仪
定位标记
坐标系
电子探测器
材料性能检测技术
合金
背散射
变换算法
实时监测技术
识别算法
数据处理算法
数据接口
电镜
矩阵
光学显微镜
晶粒边界
沪ICP备2023015588号