基于图像的缺陷检测方法、电子设备、介质和程序产品

本申请公开了一种基于图像的缺陷检测方法、电子设备、介质和程序产品，涉及图像处理技术领域，通过预处理减少原始特征图中的空间特征数据和光谱特征数据，减少无关的边缘信息干扰，并压缩冗余的光谱信息，提高缺陷检测模型的运行速度；通过将目标特征图作为缺陷检测模型的输入，获得多个像素级的缺陷分类标签，进而获得待检测目标的缺陷标识图，缺陷标识图至少包括缺陷位置坐标和受损类型编码，实现对待检测目标进行像素级别的缺陷检测，提高缺陷检测的准确度，适用于高分辨率图像。