芯片故障预测方法、装置、设备及计算机可读介质

本申请涉及一种芯片故障预测方法、装置、设备及计算机可读介质。方法包括：基于芯片的动态数据对应的时间序列构建标准特征序列；基于聚类算法对所述标准特征序列进行聚类，确定典型工作模式及对应的基准时间序列；基于所述基准时间序列通过LSTM自编码器计算测试样本的偏离程度，基于所述偏离程度计算健康度得分；结合滑动时间窗口的健康度得分与芯片的硬件统计特征，通过多模型融合方法确定最终预测结果。本申请解决了芯片故障预测依赖大量已知标签样本，风险预测的准确性低，难以应对芯片实际运行过程中的负载不确定性的问题。