模型训练方法、芯片托盘检测方法及装置、设备和产品

本公开是关于一种模型训练方法、芯片托盘检测方法及装置、设备和产品，涉及半导体测试技术领域。该方法包括：获取预先构建的初始模型与样本检测图像；由初始模型基于样本检测图像的原始输入特征与第一通道卷积特征，生成第二通道卷积特征；对第二通道卷积特征进行最大平均注意力特征提取，得到第一初始中间特征；对第一初始中间特征进行增强感受野特征提取，得到第二初始中间特征；对第一初始中间特征与第二初始中间特征进行特征提取处理，得到样本图像检测结果；基于样本图像检测结果与托盘区域标识之间的差值进行训练，得到芯片托盘检测模型。本公开可以提供一种针对低纹理黑色Tray盘的缝隙或凹槽的检测能力。