一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统

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一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统
申请号:CN202511316014
申请日期:2025-09-15
公开号:CN120832492B
公开日期:2025-12-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于大模型的Mini/MicroLED产业链质量状况监测方法及系统,涉及工业大数据技术领域,首先通过多源传感器网络和自动化检测设备采集产业链各环节的历史生产环境数据,然后利用时序特征提取算法和关联分析算法提取环节内特征和环节间关联特征,接着基于深度学习技术和图神经网络构建质量评估模型,实时监测产业链各环节的质量状态,当检测到质量异常时,通过环节关联追溯算法识别质量异常环节和环节间质量传递路径,最后根据质量异常溯源信息,通过环节协同优化算法生成质量提升方案。提高了质量异常溯源的效率。
技术关键词
状况监测方法 溯源信息 协同优化算法 特征提取模块 自动化检测设备 关联分析算法 特征提取算法 深度学习技术 工业大数据技术 封装检测系统 集成测试平台 监测模块 状况监测系统 数据采集模块 措施 集成学习方法 数据采集接口 神经网络技术
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