一种面向芯片测试台的振动噪声自适应抑制系统

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一种面向芯片测试台的振动噪声自适应抑制系统
申请号:CN202511324665
申请日期:2025-09-17
公开号:CN120821203A
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种面向芯片测试台的振动噪声自适应抑制系统,具体涉及芯片测试技术领域,包括芯片测试台多模态传感模块、多模态数据特征提取模块、振动噪声自适应抑制决策模块、芯片测试台主动抑振执行模块以及系统状态监测与反馈模块;所述芯片测试台多模态传感模块:包括振动传感器、声学传感器和运动状态传感器,通过时间同步协议和标准化操作对三路传感器采集到的数据进行预处理,得到预处理后的芯片测试台多模态数据集合;本发明采用DRL智能体作为决策模块,能够通过系统状态监测与反馈模块的奖励信号,在线微调其网络参数,自动适应新的工况,保持最优抑振性能,表现出极强的鲁棒性。
技术关键词
芯片测试台 振动噪声 系统状态监测 数据特征提取 多模态 振动加速度信号 运动状态传感器 时间同步协议 声学传感器 传感模块 动作策略 功放驱动电路 决策 振动传感器 序列 频域特征 特征提取技术 网络
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沪ICP备2023015588号