芯片测试方法、测试板卡和电子设备

本申请实施例公开了一种芯片测试方法、测试板卡和电子设备，方法包括：获取目标测试向量、测试指令和测试信息，基于测试信息中的操作数，确定目标测试向量的目标执行次数，当测试指令指示结果匹配操作，控制循环执行结果匹配操作，得到测试结果，循环执行结果匹配操作的次数不超过目标执行次数，每次执行结果匹配操作包括：采集被测器件输出的实际向量，根据实际向量和目标测试向量中的预期向量确定测试结果。本申请实现了多次自动执行匹配操作，无需每次均从存储器中获取目标测试向量，降低了执行目标测试向量的延时，提高了测试效率。