一种电磁超构材料等效电磁参数的近场表征方法

本发明涉及电磁超构材料表征技术领域，尤其是涉及一种电磁超构材料等效电磁参数的近场表征方法，包括多探头阵列采样、数据校准、信号分解与相位补偿、边界效应修正、非均匀性补偿、参数反演、自适应滤波及实时监控等步骤。本申请通过综合运用上述技术手段，显著提高了近场条件下电磁场分布采样的精度和可靠性，有效降低了边界效应和非均匀性影响，并确保了等效电磁参数提取的准确性与稳定性。同时，实时监控与反馈控制机制增强了动态追踪能力和系统优化效率。本申请能够满足现代电磁超构材料设计与优化的需求，解决了现有技术在表征精度、计算效率及复杂结构适应性方面的不足。