印鉴校验方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品

本发明提供一种印鉴校验方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品，涉及图像识别与光谱分析技术领域，该方法包括：获取目标文书上印鉴区域的高光谱图像；剔除高光谱图像中的非目标印鉴信息，得到目标印鉴图像；提取目标印鉴图像对应的光谱特征和空间结构特征；将光谱特征、空间结构特征与标准印鉴数据库进行对比分析，得到目标印鉴图像对应的目标校验结果。本发明技术方案采用了高光谱图像进行分析，高光谱成像技术融合了图像和光谱两种信息获取能力，具有识别材料差异和微小伪造痕迹的能力，本发明进一步基于光谱特征、空间结构特征与标准印鉴数据库进行对比，确定目标印鉴图像对应的目标校验结果，使得该校验结果可以准确地表明印鉴的真伪。