缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品

AITNT
正文
推荐专利
缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品
申请号:CN202511336872
申请日期:2025-09-18
公开号:CN120823218B
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本申请适用于图像处理技术领域,提供了缺陷检测方法、装置、设备、存储介质及程序产品,包括:在通过缺陷检测模型对检测图像进行初步缺陷检测,得到初步检测结果,根据初步检测结果中的像素值和作为参考的像素值之差生成像素对比图,进一步减少了第一缺陷区域中的噪声数据,以此对第一缺陷区域进行进一步缺陷检测,使得最终得到的缺陷检测结果的准确度更高。
技术关键词
缺陷检测方法 像素点 样本 神经网络模型 缺陷检测装置 对比度 计算机设备 长宽比 可读存储介质 图像处理技术 计算机程序产品 处理器 噪声数据 模块 参数 存储器 标签
系统为您推荐了相关专利信息
1
基于大数据和GIS技术的智慧路衍经济服务平台系统及方法
服务平台系统 个性化智能推荐 大数据 智能可视化 智能分析模块
2
一种工程装备知识跨项目转移方法及系统
转移方法 深度神经网络模型 特征提取器 特征融合方法 装备
3
一种基于人工智能的多源异构数据采集系统
数据采集系统 数据处理模型 企业 阶段 异构
4
一种智能空间降噪系统
降噪系统 声波 智能降噪 数据采集模块 置信度阈值
5
一种保温板粘结效果质检方法
质检方法 保温板 线性迭代聚类 窗户 建筑物外墙
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号