一种芯片噪声抗干扰测试系统

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片噪声抗干扰测试系统，包括第一直流电源、信号发生器、耦合板、评估板和示波器。耦合板上设置有信号输入接头、供电输入接头、滤波电路、电子开关和输出接头。信号输入接头与信号发生器连接，供电输入接头与第一直流电源的输出端连接。电子开关的控制端与信号输入接头连接，输入端通过滤波电路与供电输入接头连接，输出端与输出接头连接。评估板上设置有测试输入接头、测试输出接头、反馈接头和与上述三个接头均电性连接的芯片测试座。测试输入接头与输出接头连接，测试输出接头与示波器连接，反馈接头与第一直流电源的反馈端连接。该系统能以较低的成本对大电流、低电压的芯片进行抗干扰测试。